Empreinte digitale
Examiner les sujets de recherche de « Inverted Scanning Microwave Microscopy of GaN/AlN High-Electron Mobility Transistors ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.- Trier par
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Inverted Scanning Microwave Microscopy of GaN/AlN High-Electron Mobility Transistors
- Xiaopeng Wang
- , Kazuki Nomoto
- , Gianluca Fabi
- , Richard Al Hadi
- , Marco Farina
- , Debdeep Jena
- , Huili Grace Xing
- , James C.M. Hwang
Résultats de recherche: Chapitre dans un livre, rapport, actes de conférence › Participation à un ouvrage collectif lié à un colloque ou une conférence › Revue par des pairs
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Citation
(Scopus)