Contribution to the estimation of uncertainties in assembly operations assisted by 3D metrology

Résumé

L’assemblage sur gabarit est une méthode très employée dans les industries automobiles et aéronautiques. Parmi ses avantages, nous pouvons mentionner sa robustesse et ses performances métrologiques (bonne répétabilité). Aussi, même des non spécialistes peuvent l’utiliser, les composants sont immobilisés avec des butées avant de finaliser l’assemblage. Finalement, la qualité est garantie par une certification du gabarit employé. Par contre, les désavantages sont nombreux. En plus de l’important coût de fabrication et d’étalonnage de ces gabarits, ces derniers sont prévus pour un usage spécifique ; dès qu’il y a une modification ou une altération du modèle ou des composants, des modifications coûteuses doivent être réalisées. Depuis environ deux décennies, le développement des systèmes de mesures 3D est impressionnant. Aujourd’hui, nous avons accès à des technologies qui permettent le suivi simultané d’un ensemble de cibles (>30) dans l’espace de travail (jusqu’à 100×100 m) avec une bonne précision (<0.5 mm @ 95%). Le principe de l'assemblage sans gabarit (Jigless Assembly) exploite les capacités des équipements de meure 3D (ex. iGPA, Laser Tracker…) pour positionner et orienter les composants selon les requis exigés. L’idée est donc de proposer une nouvelle méthode d’assemblage, dite « Assemblage Assisté par Métrologie » (AAM), qui se veut une alternative à celle de l’assemblage sur gabarit. L’AAM offrira une très bonne flexibilité qui peut se traduire par des gains de productivité. Toutefois, pour un déploiement industriel, il faut résoudre un verrou technologique qui est l’assurance qualité de l’assemblage qui sera obtenu par AAM. En effet, il faut estimer et consigner l’incertitude inhérente à une opération d’assemblage réalisée par AMM. Ainsi, la principale question est de développer une approche pour chiffrer le doute associé sur le résultat obtenu par AAM sur une caractéristique critique (KC)? Ce mémoire a pour principal objectif le développement d’une méthodologie générale permettant d’estimer l’incertitude sur une opération d’assemblage AAM en utilisant un système iGPS.

Date	12 janv. 2026
langue originale	Anglais américain
Établissement diplômant	École de technologie supérieure
Superviseur	Antoine Tahan (Directeur(-trice)), Louis Rivest (Codirecteur(-trice)) & Sasan Sattarpanah Karganroudi (Codirecteur(-trice))