Generalized Thru-Reflect-Line Calibration for 1-220-GHz Single-Sweep Ultra-Wideband On-Wafer Measurement
- Antonio Morini
- , Marco Farina
- , Richard Al Hadi
- , Tianze Li
- , Xinghao Tong
- , Lei Li
- , James C.M. Hwang
- Marche Polytechnic University
- Cornell University
- Montreal Graduate School of Technology
Résultats de recherche: Chapitre dans un livre, rapport, actes de conférence › Participation à un ouvrage collectif lié à un colloque ou une conférence › Revue par des pairs