Amélioration de la technique de test et diagnostic CDIDDQ

Résumé

Ce mémoire a pour objectif l’amélioration de la technique de test et diagnostic CDIDDQ. Le travail réalisé consiste au perfectionnement de l’application du test CDIDDQ sur des circuits intégrés de type FPGA précédemment développée par Haithem (2011) afin d’accroître la capacité à détecter des défectuosités de type court-circuit. Ce mémoire débute par une présentation des notions de base ainsi qu’une revue de littérature où sont présentées différentes notions liées aux pannes de circuits intégrés, l’émulation de pannes sur FPGA, les techniques de tests basées sur le courant ainsi que les travaux passés dans l’application de la technique de test CDIDDQ. Par la suite, la technique de génération des patrons de test CDIDDQ ainsi que les vecteurs associés à ceux-ci sont présentés. Nous avons utilisé la simulation afin de valider le fonctionnement des patrons de test pour ensuite passer à leur application sur des circuits intégrés de type FPGA. Comme première application expérimentale, nous avons choisi de refaire celle employée par Haithem (2011) en utilisant toutefois un différent système de mesure, ce qui nous a donné des résultats similaires. Suite à cela, nous avons apporté des modifications sur le montage afin de réduire au maximum le bruit sur l’alimentation. Nous avons utilisé le même FPGA, mais cette fois-ci, sur une autre carte de développement, ce qui nous a permis d’augmenter notre capacité à détecter des pannes de court-circuit. Nous nous sommes aussi intéressés à l’application de la technique sur des circuits plus énergivores allant de 70mA à 3A. Pour finir, nous présentons en détail la technique d’application expérimentale avec laquelle nous avons pu obtenir les meilleurs résultats. À ce stade, nous utilisons un différent montage, une différente architecture pour le testeur CDIDDQ, une différente technique d’acquisition et un logiciel spécialement mis au point pour les tests CDIDDQ. Ces modifications nous ont, entre autres, permis de détecter des pannes de court-circuit induisant des courants cinq fois plus faibles.

Date	10 janv. 2014
langue originale	Français
Établissement diplômant	École de technologie supérieure
Superviseur	Claude Thibeault (Directeur(-trice)) & Ghyslain Gagnon (Codirecteur(-trice))